理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域

點(diǎn)擊次數(shù)：1793 更新時(shí)間：2022-11-07

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀是用晶體分光而后由探測(cè)器接受經(jīng)過(guò)衍射的特征X射線信號(hào)。如果分光晶體和控測(cè)器做同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)及各個(gè)波長(zhǎng)X射線的強(qiáng)度，可以據(jù)此進(jìn)行特定分析和定量分析。

X射線熒光分析技術(shù)（XRF）作為一種快速分析手段，為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供了一種檢測(cè)、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對(duì)于其他分析方法，XRF具有無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速、方便、測(cè)量成本低等優(yōu)點(diǎn)，適合用于各類相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)作為過(guò)程控制和檢測(cè)使用。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種掃描型熒光X射線分析儀，具有上照射類型。支持測(cè)量和分析，即使初學(xué)者也能輕松獲得準(zhǔn)確的分析結(jié)果。數(shù)字計(jì)數(shù)系統(tǒng)、高速驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀和優(yōu)化的控制系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)高速、高精度測(cè)量。通過(guò)人工多層累積膜和真空控制機(jī)制，可以測(cè)量*輕元素。高規(guī)格型號(hào)還配備了安全可靠的設(shè)計(jì)，如人為錯(cuò)誤預(yù)防功能、點(diǎn)映射分析和散射線SQX功能。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域：

地質(zhì)樣品領(lǐng)域：針對(duì)地質(zhì)領(lǐng)域壓片和熔片兩類樣品分別開發(fā)了應(yīng)用方法體系，可以為地質(zhì)研究、找礦提供可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

建材樣品領(lǐng)域：針對(duì)多種建材樣品的分析需求，建立了水泥、涂料等樣品應(yīng)用方法體系，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的高精度分析。

新材料樣品領(lǐng)域：能夠解決新材料研究領(lǐng)域?qū)挿o(wú)損、全元素分布分析的難題。

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