X射線熒光光譜儀是一種快速、無損、多元素同時測定的現(xiàn)代測試分析儀器，已廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)研究、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑事偵查等諸多領(lǐng)域。它大一個特點就是對樣品進行定性、定量分析時不用制樣，可選擇整個或取樣品部分殘片顆粒，也可以將樣品研磨成粉末等來進行X射線熒光分析，對測試分析樣品大小要求較低，在一定范圍內(nèi)樣品可大可小，因此對于一般的考古完整器都能直接進行分析，極大地避免了在對較大的珍貴古陶瓷等文物進行科學(xué)分析研究的同時對其產(chǎn)生的破壞。
X射線熒光光譜儀主要優(yōu)點為：
1.無損檢測，對分析樣品的形狀、大小和材料沒有特殊要求，被測樣品在測量前后，無論其化學(xué)成分、質(zhì)量、形狀等都保持不變，且隨著技術(shù)的改進，有些類型的能量色散X射線熒光光譜儀已經(jīng)具備了超大的真空樣品室，可滿足大樣品的無損分析。
2.分析速度快，可以預(yù)篩選大量的樣品。一般情況下，檢測一個樣品中的諸元素只需幾分鐘。
3.精度高，準(zhǔn)確度好，探測極限達到1-0.1mg，相對分析極限可達百萬分之一級。
4.自動化程度高。
5.探測束斑可調(diào)節(jié)，可以滿足微區(qū)分析。
X射線熒光光譜儀在日常使用中的注意事項：
1、X射線熒光光譜儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
2、為保證有害元素含量的控制效果，X射線熒光光譜儀的測量數(shù)據(jù)應(yīng)與其他的測量手段結(jié)合起來使用；X射線熒光光譜儀更適合生產(chǎn)過程的監(jiān)控，甚至可以說：在生產(chǎn)過程中對有害元素含量的監(jiān)控，X射線熒光分析方法是目前可行的分析手段；而有害元素含量的終裁定，則不應(yīng)該僅僅依靠單一的測量手段。
3、被測量樣品的處理與測量精度的關(guān)系：
從X射線熒光分析理論上說，對被測量樣品進行必要的處理是必須的；一般來說，樣品處理的越好，則測量精度就會越高，測量結(jié)果越可靠。在實際使用過程中，我們應(yīng)該盡量對被測量樣品進行必要的物理處理。
在測量不規(guī)則的樣品時，雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進行技術(shù)上的校正，從而滿足實際測量的需要；但這樣做所付出的代價是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。
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